TEM

穿透式電子顯微鏡【TEM; JEOL JEM-2010】

 技術人員:王智賢 同學 (05)2720411 轉 61437

 E-mail:jshian7141@gmail.com

 指導教授:周禮君 博士 (05)2720411 轉 66411

 E-mail:chelkc@ccu.edu.tw

TEM


儀器概述:
JEOL JEM-2010:

倍率:50~1.5M倍;加速電壓:120,160,200KV;電子槍燈絲:LaB6;附加儀器:EDS。

服務項目:
1. 材料試片表面組織、斷面、微細組織、晶體結構、及缺陷之觀察量測。
2. 備有精準離子拋光系統等TEM試片處理用周邊設備,供使用者薄化各種試片。(暫不開放)


取樣應注事意項:

1. 試片:直徑3mm大小,0.1-0.2mm厚。
2. 不接受具有揮發性、磁性、腐蝕性及易碎裂,致使Column污染之試片樣品必須完全乾燥。
3. 試片準備以自行研磨為原則,欲使用離子研磨機者,試片須減薄至40nm以下。(暫不開放)
4. 一律使用E-mail寄送資料。

收費辦法及標準:
每一操作單元(以三小時計,未滿者亦以一單元計)收5,000元。

預約注意事項:
1. 本儀器採用線上預約制度。
2. 由國科會計劃之貴儀使用費付費者,請至國科會貴儀中心網站預約。
3. 請預約者完成預約手續後,再來電與操作者確定時間。
4. 下載表格

放置地點:
理學院二館 貴儀R135室