TEM
穿透式電子顯微鏡【TEM; JEOL JEM-2010】
技術人員：王智賢 同學 （05）2720411 轉 61437
E-mail：jshian7141@gmail.com
指導教授：周禮君 博士 （05）2720411 轉 66411
儀器概述：
JEOL JEM-2010：
倍率：50～1.5M倍；加速電壓：120,160,200KV；電子槍燈絲：LaB6；附加儀器：EDS。
服務項目：
1. 材料試片表面組織、斷面、微細組織、晶體結構、及缺陷之觀察量測。
2. 備有精準離子拋光系統等TEM試片處理用周邊設備，供使用者薄化各種試片。(暫不開放)
取樣應注事意項：
1. 試片：直徑3mm大小，0.1-0.2mm厚。
2. 不接受具有揮發性、磁性、腐蝕性及易碎裂，致使Column污染之試片樣品必須完全乾燥。
3. 試片準備以自行研磨為原則，欲使用離子研磨機者，試片須減薄至40nm以下。（暫不開放）
4. 一律使用E-mail寄送資料。
收費辦法及標準：
每一操作單元(以三小時計，未滿者亦以一單元計)收5,000元。
預約注意事項：
1. 本儀器採用線上預約制度。
2. 由國科會計劃之貴儀使用費付費者，請至國科會貴儀中心網站預約。
3. 請預約者完成預約手續後，再來電與操作者確定時間。
4. 下載表格
放置地點：
理學院二館 貴儀R135室